SpinSpectra 噪声频谱测量系统

SpinSpectra-NSMS 是一种噪声频谱测量系统，可用于测量传感器、电子设备或新型电子或磁性材料的固有噪声，作为 0.01 Hz 至 700 kHz 频率的函数。这个过程通常被称为噪声频谱的测量，它有可能揭示噪声产生的物理来源或机制。工程师可以使用 SpinSpectra-NSMS 测量各种噪声，例如 1/f 噪声、Johnson-Nyquist 噪声、散粒噪声、随机电报噪声 (RTN) 或巴克豪森噪声。SpinSpectra-NSMS 还可用作超低噪声频谱分析仪或放大器。

SpinSpectra-NSMS 专为基础和应用研究以及产品开发和质量控制而设计。例如，科学家可以用它来测量纳米级半导体器件（如量子点、纳米管或二维电子气）的量子噪声。在研发领域，研究人员可以测量磁传感器、加速度计、麦克风、生物医学传感器或光电探测器的限灵敏度。

SpinSpectra-NSMS 显示 0.01 Hz 至 700 kHz 之间感测信号的频谱。它还可以显示噪声间的变化。

SpinSpectra-NSMS 以合理的价格提供高性能。它配备了专用计算机和平板显示器，允许用户通过友好的用户界面控制 NSMS 的操作。噪声频谱实时显示并存储在数字文件中，以便测量后进行分析。用户可以在用户界面上控制噪声频谱测量的条件。例如，对于超低噪声测量，用户可以选择较长的数据采集时间，以提高数据的统计性。用户还可以控制施加到被测设备的电压并测量偏置电压对噪声频谱的影响。SpinSpectra-NSMS 提供前所未有的多功能性和高效控制。