美国进口经济型高分辨率快速原子力显微镜
原子力显微镜分辨率低至 0.2 纳米 光学显微镜分辨率高达 1000 倍 多模式扫描探头
AFM-1000原子力显微镜使用扫描探针进行各种模式的单色成像。分分辨率 0.2nm,远远超过光学显微镜的限制大约 1000 倍。扫描过程使用横向高达 20?m 和纵向高达 2?m 的三维移动。
根据样品的性质,探头可用于接触和轻敲模式。接触模式提供样品表面的力测量,产生高分辨率,但因摩擦和粘附而有偏差。轻敲模式通过间歇接触避免摩擦和粘附。除了地形,探头还可以测量磁力和静电力。
AFM 特点
1. 一体式设计,精巧的结构和造型。
2、扫描头与样品台一体设计,抗震性能强。
3.精密激光检测和探头对准装置,使激光调整简单易行。
4.采用伺服电机手动或自动驱动样品接近尖端,实现精雀扫描区域定位。
5.高精度大范围样品传输装置,可扫描样品任何感兴趣的区域;
6.不同类型的扫描仪满足不同客户对精度和扫描尺寸的要求;
7.用于尖端检查和样品定位的光学观察系统。
8.使用伺服电机调整光学系统焦距和放大倍率;
9.电子系统采用模块化设计,易于维护和开发。
10. 集成多种工作模式的控制电子设备以供进一步开发。
原子力显微镜特点
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1. 一体式设计,精巧的结构和造型。
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2、扫描头与样品台一体设计,抗震性能强。
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3.精密激光检测和探头对准装置,使激光调整简单易行。
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4. 采用伺服电机手动或自动驱动样品接近尖端,实现扫描区域的精雀定位。
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5. 高精度大范围样品传输装置,可扫描样品任何感兴趣的区域;
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6、不同型号的扫描仪满足不同客户对精度和扫描尺寸的要求;
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7. 光学观察系统,用于尖端检查和样品定位。
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8、使用伺服电机调整光学系统焦距和放大倍率;
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9、电子系统采用模块化设计,易于维护和开发。
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10. 集成多种工作模式的控制电子设备以供进一步开发。
物品
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技术数据
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操作模式
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接触模式,轻敲模式
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样本量
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Φ≤80 mm;H≤20 mm
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zui大限度。扫描范围
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X/Y:50 微米,Z:5 微米
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解析度
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X/Y:0.2nm,Z:0.05nm
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扫描速率
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0.6赫兹~4.34赫兹
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扫描控制
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XY:18 位 D/A,Z:16 位 D/A
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数据采样
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一个 14 位 A/D 和两个 16 位 A/D 多通道同时
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重量/尺寸
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40KG,700*480*450mm
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扫描角度
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0~360°
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样品移动
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0~20毫米
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接近电机脉冲宽度
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10±2 毫秒
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CCD放大倍率
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光学倍率:0.6~5X,电子倍率:40X
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数据点
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256×256,512×512
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反馈类型
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DSP数字反馈
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反馈采样率
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64.0KHz
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电脑连接
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USB2.0
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视窗
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兼容Windows98/2000/XP/7/8
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用户友好的软件和功能
1、多路图像同步采集显示,实时观察剖面图。
2.获取并测量FZ、f-RMS、RMS-Z等多条曲线
3.执行扫描区域移动和切割功能,选择任何感兴趣的样品区域。
4. 开始时以随机角度扫描样品。
5、实时调整激光光斑检测系统。
6. 手动或自动搜索烙铁头的共振频率。
7.在调色板中选择和设置不同的扫描图像颜色。
8. 支持样本标题实时线性平均和偏移校准。
9.支持扫描仪灵敏度校准和电子控制器自动校准。
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