农药残留检测仪/农药残留快速检测仪
型号:： MC-T
价格:请致电：010-57128832,18610462672
品牌: 电议    产品商标: 电议

 

盟创 MC-T高智能实用型高智能***残留测试仪5通道
产品咨询电话：021-51083677，免费热线：400-700-0101.
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MC-T高智能实用型高智能***残留测试仪参数介绍：
测量范围：0~100%
透射比准确度≤±2.0%
透射比重复性≤0.5%
MC-T高智能实用型高智能***残留测试仪优势：
试剂盒显色，样品和时间用量少，防止二次污染。
自动保存打印测量数据、检测时间和日期，并可翻页查看，操作简便。
带有RS-232接口，数据可即时传送到计算机或自动打印自由切换。
采用独特全固态光源，寿命长达数万小时。
无机械运动部件，抗干扰，抗振动，性能稳定可靠.
大屏幕液晶(114*64cm)中文显示，读数准确、直观。
体积小、质量轻、携带方便。
 

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以线性时间记录的荧光快速上升动力学

以对数时间记录的荧光快速上升动力学（相当于O-J-I-P相）


Kramer的新荧光参数资料，这是一篇2004年发表在Photosynthesis Research 上的文章，见如下描述:

Kramer提出的新参数：
qL，用于代替qP
Y（II）＝Y＝（Fm’-F）/Fm’
Y（NPQ) 表征PS II处过量光能耗散为热，与光保护有关
Y（NO） 表征PS II处过量光能引起的光损伤
Y(II)+Y(NPQ)+Y(NO)=1

Schreiber教授和其学生Klughammer博士新设计的Dual-PAM-100中，借鉴测量叶绿素荧光的方法，新增了几个参数：
Y（I） PS I的量子产量或PS I的光合效率
Y（ND) 表征PS I处过量光能耗散为热，与光保护有关
Y（NA） 表征PS I处过量光能引起的光损伤
Y(I)+Y(ND)+Y(NA)=1

色素分子处于氧化态和还原态时，或增加/减少亚基后，其吸收峰会有变化。基于此原理，P700吸收变化、P515吸收变化（类胡萝卜素能态）、P505吸收变化（叶黄素循环）等均可通过Dual-PAM-100测量。主机共用，只是更换激发-检测单元即可。此外，Dual-PAM-100还可用于测量NADPH荧光、9AA荧光（跨膜质子梯度）等。