激光扫描共聚焦显微镜FV1200
型号:: FV1200
价格:请致电:010-57128832,18610462672
品牌: 日本    产品商标: olympus

产品描述:

      配合Olympus最新倒置显微镜IX83,并采用了高反射率扫描银镜和高灵敏度GaAsP检测器,FV1200最大限度的避免了传统扫描过程对活样品造成的损害和对动态成像的影响,能快速、全面、精准的记录研究人员所需要的信息。

 

      配合Olympus最新倒置显微镜IX83,并采用了高反射率扫描银镜和高灵敏度GaAsP检测器,FV1200最大限度地避免了传统扫描过程对活样品造成的损害和对动态成像的影响,能快速、全面、精确地记录研究人员所需要的信息。

高灵敏度、制冷型GaAsP检测器:
      最高量子效率(QE)值达到45%2倍于常规PMTOlympus设计的Peltier制冷模式,检测器电子噪声降低20%以上。

最新倒置显微镜IX83
      自动聚焦ZDC、快速8孔激发块转盘、7孔电动聚光镜配合智能的触控操作,快速完成实验流程。

突破性高性能物镜:
      根据您的不同实验要求,Olympus提供超级校准物镜、硅油物镜、纤细物镜等多种顶级物镜选择。

高反射率扫描银镜:
      反射率比传统扫描镜高5-15%,红外波段反射率提高20%以上,共聚焦-多光子系统的理想工具。

同步双扫系统(SIM Scanning System):
      在一束激光对标本进行刺激的同时,另一束激光同时对活细胞内的瞬间变化进行记录。使用高速漂白的龙卷风扫描模式,非常适合快速FRAP、光转化、光活化、解笼锁和光遗传学研究等。

#333333; FONT-SIZE: 12pt; mso-font-kerning: 0pt; mso-bidi-font-family: Tahoma">锐利、清晰的高对比度图像
  高水平的图像对比度和视野平场度确保了对原始样品形状的准确还原与记录。

“ComfortView”目镜,使用更舒适,工作更快捷
  这种全新设计的目镜具备瞳孔相差控制和眼点适当定位功能,能够确保对样品进行快捷、舒适的观察和记录。因此,使用者能够轻松地找到视野,并舒适地进行观察和保持姿势。

5中变焦性能选择
  SZ61SZ51提供5种系统配置选择。第一种,在安装标准底座后,可装配一个符合人机工程学设计特点的45°内倾角观察筒。第二种,在必须倾斜变焦镜头以使用其他设备或安装万能支架时,操作者可以附加一个60°内倾角的观察筒(SZ61-60/SZ51-60)。为了便于记录文档,奥林巴斯还提供一款SZ61TR显微镜——具备一个三目观察筒,可方便地链接数码相机和摄像机。

方便的正面操作
  经过改善,使用者可以方便地从正面对最常用的旋钮和控制装置进行操作,从而最大程度地确保操作者的舒适性,并缓解其脖颈和背部肌肉的疲劳度。

品种齐全的辅助物镜和目镜 
  品种齐全的辅助物镜能确保在最佳的工作距离(W.D.)上完成各种观察任务。工作距离可以在250mm-350mm0.3x物镜)之间和180mm-250mm0.4x物镜)之间进行调节。目镜的种类在10x-30之间,可以实现最佳的系统放大。

选择最适合当前工作的照明光源

底座照明系统

·        LED照明底座/SZ2-ILST 
世界上第一款LED照明底座,薄型设计,可以使样品保持较低位置并最大程度地方便操作。底座可同时实现透射光和反射光照明。LED灯可在任何亮度下提供长时间稳定色温的照明。

·        明视野/暗视野透射光照明灯/SZX-ILLD2 
这种底座能提供明亮、高对比度的明视野和暗视野照明。被照亮的视野范围在明视野下可高达63mm,在暗视野下达33 mm

·        高水平透射光照明灯/SZX-ILLB2 
这种照明底座能提供明亮有效的照明,对比度可以进行连续调节,具备一个可调节的细长狭缝,能增加各种样品的对比度,可通过内置滤色片滑板调节亮度和色温。

·        透射照明辅件/SZ2-ILA
这种物美价廉的照明底座,能提供从低放大倍数到高放大倍数的明亮均一的照明。可倾斜的反光镜能为低对比度样品提供直射和斜射照明。22W100W灯箱为满足各种照明提供了必要的动力。

光导照明系统

·        柔性光导管/SZ2-LGSF 
单一式光纤导管固定在物镜的后部,从而避免了对显微镜操作的干扰。

·        连锁式光导管/SZ2-LGDI 
标准的倾斜式半柔性光纤导管。光源固定在底座后部,节约了桌面空间。

·        环形光导管/SZ2-LGR 
LGB照明系统配合使用,这种环形光导管能提供明亮、一致的图像。

·        同轴反射光照明灯/SZ2-ILLC 
结合了一个起偏器和一个1/4λ片,便于观察在倾斜式反射光照明下难于观察的样品。