JSM-6010LV/JSM-6010LA荣获2011年度美国R&D100殊荣“NEWS" 从1963年以来，美国R&D杂志主办的研发百大奖 (R&D 100 Award) 得主，后来都成功地发展为家喻户晓的科技应用，真正以创新研发，改善了人类的生活。包括自动取款机、卤素灯、传真机、液晶显示器、打印机，以及高画质电视HDTV等。 日本电子JEOL最新型触控电镜JSM-6010LV/JSM6010LA系列仪器，以其优越的光学性能、高分辨率及绝佳的仪器操控性，与Intel、Dell、3M等国际知名大厂共同跻身2011年度全球百大科技。 详细资料2011 R&D 100 Winner JSM-6010 台式扫描电子显微镜的优点 满足越来越多元化的系统操作需求 支持无线操作 JSM-6010系列仪器可支持计算机无线连接操作。您可将操作计算机携带至更方便舒适的操作环境，透过无线方式连接仪器主机，直接以鼠标或触控屏幕操作仪器。 独立触控式操作屏幕 当仪器安装空间不足时，JSM-6010系列仪器可选搭独立触控式操作屏幕界面，大幅度降低仪器安装空间需求。即使在生产在线，也能够轻松安装仪器，满足各种环境需求。 预设操作条件方便使用 仪器操作界面非常直观而简单，按钮式操作界面让您循序进入仪器操作。内建完整分析方法，涵 盖多数样品常规分析条件，协助您快速完成样品分析条件选择与设定，仪器操作非常简单。 专业操作台 您也可选购专业的操作台面，配置上触控式操作屏幕的桌上型计算机。或以一般计算机外接鼠标操作。选择您最方便的操作组合。 快速操作键盘* 选购的快速操作键盘让您的操作更加方便。仪表版上就有您最经常使用的功能键。包括放大倍率、自动对焦、自动亮度，自动对比等功能，都能由快速操作键盘上直接对应操作。透过内置自动马达与快速操作键盘，样品上下左右位移更加方便而快速。 配置二次电子探头与背散电子探头 JSM-6010LA/JSM6010LV是一台高 精密、高表现的SEM。适合各类型研究使用。您可使用二次电子图像，精确观察样品表面形态，也可使用背散电子图像观察样品组成成份图像。另外更可配置EDS能谱，直接分析样品成份。所有您所需要的分析功能，一体化的触控式扫描电镜JSM-6010都涵盖了。 沙子(二次电子图像) 7kV x5,000 沙子(背散电子图像) 7kV x5,000 碳上的镀金颗粒图像 (二次电子图像) 20kV 50,000 树叶(二次电子图像) 7kV x700 树叶(二次电子图像) 7kV x700 配置电制冷SDD能谱仪 EDS能谱(能量分布式X光分析装置)可以直接分析样品的元素组成。对样品进行定量分析，可以得到精确的元素组成比例。而成份分布图则可以清晰显示各个成份在样品中的分布位置与相对比例。 背散电子图像 镉(Cd) EDS能谱图像 锡(Sn) 铋(Bi)   标配低真空模式----不导电样品可直接上机分析 纑ofessional services such as designs, developments, optimizations,      characterizations, and trainings.      throughout the entire cycle of CVD graphene production We are willing to help you      master the CVD graphene synthesis technology quickly 。另一组选购的SNS导航系统，则是在样品置入样品舱前，先使用外置CCD数字影像系统进行拍照，然后在样品进入舱内后，便可使用此图像进行导航。让您更容易寻找、切换样品。更方便样品在舱内进行大距离的移动。 仪器规格 分辨率 高真空模式 4.0nm (20kV), 低真空模式 5.0nm (20kV), 放大倍率 8到300,000倍 加速电压 0.5kV~20kV 样品台 大型全对中样品台 (五轴手动X, Y, Z, R, T) Ｘ：80mm, Ｙ：40mm, Ｚ：5mm～48mm T：-10°～ + 90°, R：360° 最大样品尺寸 直径150mm, 高度48mm 检测器 二次电子检测器、背散射检测器、（成份像、形貌像、立体像）、EDS检测器(SDD) ＊JSM-6010LA有低真空二次电子检测器为选购 画像显示 标准图像、双实时图像、分立实时图像、画中画模式、数字放大、双放大倍数 EDS元素分析 定性分析、定量分析、彩色面分析、电子束追踪、检测元素范围：B~U 自动功能 自动聚焦、自动衬度/亮度、自动消像散、自动灯丝饱和、自动对中、自动电子枪偏压。 真空排气装置 涡轮分子泵（TMP）、机械泵（RP） 网络 以太网、无线LAN（选配件） 中文型录下载