植物根系X-光扫描成像分析系统 | ||||||||||||||||||||||||||||||
型号:: ZQ-PT001 | ||||||||||||||||||||||||||||||
价格:请致电:010-57128832,18610462672 | ||||||||||||||||||||||||||||||
品牌: 美国 产品商标: phenotype screening | ||||||||||||||||||||||||||||||
植物根系X-光扫描成像分析系统
根系X-光成像示意图 植物根系系统生长在特制的X-光可穿透的培养容器和培养介质中,一侧用低能数字X-光发射器发出X-射线,另一侧利用X-光相机进行检测。X-光发射器前带有可开关的防护门,当门关闭后,所有X-射线被屏蔽掉。仪器外壳带有内锁,不会发生X-光泄漏。 植物根系X-光扫描成像分析系统 根据植物体型差异,可以选择不同大小的分析系统。整套系统完全由软件控制,可以通过两次测量获得植物根系的立体照片。
特制培养容器和介质 Phenotype Screening公司提供多种特制培养容器和介质,满足不同植物和植物生长不同阶段的需要。培养容器大小可从50 mm宽 x 200 mm高至 150 mm宽 x 600 mm高。特殊体积可定制。
应用实例一:根系生长发育的动态监测
利用红/蓝蓝立体眼镜可以观看立体效果 应用实例二:不同品种间根系的差异 利用红/蓝立体眼镜可以观看立体效果 应用实例三:根系系统分类 利用肉眼很难区分不同变种的植物根系。而借助植物根系X-光扫描分析系统的结果,以侧根密度和主根长度为坐标轴得出的散点图,可以对大豆变种的根系进行分类。上图中,多根变种分布于中心线的上部,而正常品种分布于中心线的下部。将这两个品种杂交后,这种方法可用于快速扫描后代的多根特性。 应用实例四:根系对胁迫响应 特制培养介质不含营养盐、水分和任何害虫,因此研究人员可方便的添加不同营养盐、水分和害虫进行胁迫响应研究。 |