考种仪 |
型号:: SC-E/SC-K |
价格:请致电:010-57128832,18610462672 |
品牌: 中国 产品商标: 天下谷仓 |
简介: 可用于野外或实验室对大米外观形状的分析。主要是分析评价各类大米(籼米、粳米、籼糯米、粳糯米,特种米、有机米等)、各类种子(玉米、大小麦、谷粒、豆类、瓜果籽、蔬菜种子、小米、芝麻、花种子,以及极细小的拟南芥籽等)。可一次扫描成像就分析出:粒形(直径、长度、宽度、长宽比、面积)、整精米数量、整精米率、大米透明度、垩白率、垩白度、千粒重、碎米率、不完善率(黄粒米、未成熟粒、杂质)。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应,能检测各项指标的重量比和粒数比。还可快速进行稻种等的考种计数。可自动分析玉米在棒截面、粒形上的各参数。广泛适用于种子、品种质量监管和品种选育相关的研究部门,提高工作效率。 性能优点: (1)专有的向导学习,使非专业者快速上手。能准确地自动分割团状粘连的种子图像,自动计数精度≥99%,监视修正<1%,即达100%正确。 技术参数: 1.快速形态分析:40秒内自动精准分析测出每粒种子的各面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径(长度测量误差≤±0.1mm,长宽比测量误差≤±0.05,重现性误差≤±0.02mm),自动获得每粒种子的外观形状参数,以及千粒重、大米整精米粒数、整精米率(30g样本的测量误差≤±1.0%,重现性误差≤±0.25%)、垩白度、垩白粒率(30g样本的测量误差≤±1.0,重现性误差≤±0.5)、大米透明度(30g样本的测量误差≤±5.0%,重现性误差≤±0.5%)、碎米率、不完善粒(黄粒米、未成熟粒、杂质)。可自动分割粘连种子、自动剔除微小杂质和错误目标,可选择区域统计。稻种等的考种计数正确率,经极快速地可视化验证后,可达100%正确。2.具有对被分析目标颜色、形状进行自动学习,并实现自动分类的特性。可任意组合的批操作向导,实现一键自动完成计数与各项分析,并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子粘连分割、输入重量后自动换算出千粒重等;可裁剪或擦除掉污染目标区,删除任意区域内的误选种子。可合并误分割,以及对自动识别后的黄米粒和其它目标做类别转换修正。 3.测量功能: 尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正; 长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量; 可以单独进行目标的长度测量 4.数据存储:图像可保存(可保留原图/结果图);自动形成总报表,统计分析结果能输出至Excel表; 5.仪器规格与配置: 专配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800真彩双光源扫描仪(电脑另配); |