UV757紫外可见分光光度计

【技术参数】：

型号	UV757
波长重复性	≤ 0.2nm
光谱带宽	2nm
波长大允许误差	± 0.5nm
波长范围	200nm～1000nm
接收元件	光电池
透射比大允许误差	±0.5%（T）
透射比重复性	≤0.2%（T）
稳定性	≤ 0.004A/30min
噪声	100%噪声≤0.5%（T） 0%噪声≤0.2%(T)
透射比测量范围	0.0%（T）～200.0% (T）
吸光度测量范围	-0.301（A）～4.000(A)
光源	钨卤素灯12V20W（进口）DD2.5氘灯（进口）
杂散光	≤0.3%（T）（在220nm以Nal测定和340nm处以NaNO2测定）

【主机功能】：采用微机测量系统，T-A转换精确，自动调整0%（T）和调整100%（T），具有GOTOλ，自动8联样品架，自动扣除比色皿误差，浓度多点标定，斜率和截距设置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印机专用，另行选配）。

【联机功能】：

通过RS-232串行接口，可利用上层软件做全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程(1次,2次,3次 )，多波长测试,并大大扩展测试功能(除主机功能外)提供数据向Excel 传送方式，便于用户的后期处理。

基于Windows开发的UVCONTROL控制软件，可对主机进行全面控制。包括数据采集(单点测量，光谱扫描定量测定,时间扫描)各种数据处理。

标准化、峰谷检测、面积计算。

图谱的放大、缩小、平滑、导树、四则运算 、1~4 次导树, T~A转换单波长、多波长定量测定。

测试报告可以以标准文件或者Excel输出。

扫描图谱、工作曲线和测量结果可海量存储,方便您的办公。

K系数法、一点工作曲线法,可进行次函数拟合定量分析中异常点剔除。

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