专为复杂体系提供高精度粒度解析方案
NICOMP呈现的不仅仅是传统的高斯正态分布，还有更多。。。。。。

NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪

  NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术，即可以多角度（步长0.9°）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围：0.3 nm – 10 μm。



NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的，粒子之间的排斥力越大，粒子越不容易发生聚集，胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS），实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。
自动滴定仪
NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后，可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试，实现了在等电点测试的技术难题。

相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术
PSS 于 2004 年推出领先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。

NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点

同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位
Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及最新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品
检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测
样品测试量小
高辨析率
结果重现性好，误差小于1%
100 % 样品可回收利用
可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器
无须校准
一次性进样，避免交叉污染样品
可选配大功率激光发生器以及军品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒