高纯锗探测器GEM50P4
品牌:美国Ortec
晶体类型: P型高纯锗,同轴型
相对探测效率: 大于50%
能量响应范围: 40 Kev – 10 Mev
能量分辨率: 对1.332 MeV峰(Co-60):≤1.9keV
对 122 keV峰(Co-57):≤ 0.9 keV
峰康比: ≥ 64:1
峰形参数: FW0.1M/FWHM ≤1.9,FW0.2M/FWHM ≤ 2.6
数字化谱仪DSPEC-jr2.0-POSGE
-最大数据通过率:大于100kcps(低频抑制器LFR关闭);大于34kcps(低频抑制器LFR开启);
-具有低频噪声抑制、自动最优化、自动极零、零死时间校正和虚拟示波器等功能;
-液晶屏显示,能随时显示探测器晶体温度、高压状况、增益/零点稳定性、实时间/活时间和计数率等信息;USB2.0接口;
-系统变换增益(存储器分段):由计算机选择为16,384,8192,4096,2048,1024或512道;
-积分非线性 ≤±0.025%;微分非线形 ≤±1%;
-数字化稳谱器:由计算机控制并稳定增益和零点;
-温度系数: 增益:<35ppm/°C ;零点:<3 ppm/℃;
-脉冲抗堆积:自动设定域值,脉冲对分辨率为500ns。