Nanothi 100技术规格
可测薄膜
可测膜层 Oxide、Nitride、BPSG、PR、PI、Polymer、Polysilicon、ITO等
膜层结构 Oxide/Si、PR/Si、Nitride/Si、Polysilicon/Oxide/Si 等单、多层结构
测量参数 T，N，K，R
测量范围 25nm - 20µm (Oxide/Si)
硬件规格
光谱范围 400-800nm
物镜倍率 4X 10X 40X
光斑尺寸 最小30µm
机械分辨率 X：1µm， Y：1µm， Z：0.04µm
测量指标
250Å－2000Å 2000Å－20µm
准确度 ±1％ ±1％
重复性（3б） 0.75Å 0.05％
稳定性（3б） 2.4Å 0.25％
测量时间 单点 < 3sec， 5点 <30sec
- 主要特点
先进的光学测量技术
高精度、高重复性测量
稳定、使用寿命长且低成本的光源
高性能PDA
自动调焦
三维全自动机械平台
贴近生产实际操作习惯的软件系统，为测量提供快捷、方便易用的操作
数据的准确测量与实时评价
