CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪

CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 主要性能指标及技术指标 主信号通道： 信号输入方式：单端交流输入 输入量程：0.5mV-500mV 信号频率范围:1KHz±5 本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) 性误差: ≤0.1 零点时源： ≤0.2/h 参考信号通道： 信号输入方式：单端交流输入 输入幅度：20-700mV 频率范围:≥320。